XRF

X-Ray

X-ray는 매우 짧은 파장(0.01nm~10nm)과 높은 에너지를 갖는 전자기파입니다.

• X-ray는 매우 짧은 파장(0.01nm~10nm)과 높은 에너지를 갖는 전자기파의 일종입니다.
• 1895년 Wilhelm Conrad Röntgen에 의해 발견되어 의학 및 과학 연구, 산업에서 중요한 도구가 되었습니다.
• X-선은 고에너지 전자가 금속 타겟과 충돌할 때 발생되며, 전자는 X-선 광자 형태로 에너지를 방출합니다.
• X-ray는 흡수, 회절, 반사, 투과하는 물리화학적 특징을 지니고 있습니다.

이런 특징들을 이용해서 눈으로 보이지 않는 사진촬영용으로 X-Ray 투시기, 물질의 결정구조 분석용 XRD, 성분이나 두께 측정용으로 XRF, 박막 두께를 측정하는 XRR 등의 분석기기를 만들 수 있습니다.

XRF 기술이란?

XRF 원리

X-ray로 시료를 조사하면 시료에 함유되어 있는 고유한 특성을 갖는 형광 X선이 발생합니다. 모든 물질은 X선에 반응했을 때 고유한 특성에너지를 발생하므로 이 특성에너지 크기로 물질의 성분을 알 수 있고, 금속의 양에 따라 발생하는 형광 X선의 양이 비례적으로 증가하므로 형광 X선의 계수로 금속물질의 함량을 측정할 수 있습니다.

XRF 기술 분류

X-ray 분석은 영상분석기술과 스펙트럼 분석기술로 나눠집니다. 영상분석기술은 전통적인 필름 기반 인화방식과 디지털 기반 X-ray 이미지 저장방식으로 나뉩니다.

X-ray 형광분석기술은 물질 내 원소의 존재와 함량을 분석하는 기술로 크게 두 가지 유형으로 나뉩니다.